測(cè)試背景

        電容器是各種電子設(shè)備中的基本元件，廣泛地應(yīng)用于對(duì)電子電路進(jìn)行旁路、耦介、濾波和調(diào)諧等方面，其漏電流是電容器重要的特性參數(shù)之一。電容漏電流是指電容器兩極之間的電流，因電容器兩級(jí)之間具有一定程度的電絕緣性能，所以漏電流只有微小的電流流過，但在實(shí)際的電路和設(shè)備應(yīng)用中，如果漏電流超過了規(guī)定限制的閥值，就可能導(dǎo)致電容器失效，從而引起電路損壞。因此對(duì)電容器的漏電流進(jìn)行測(cè)試非常重要。

測(cè)試準(zhǔn)備

        測(cè)試選用HY5680電容器漏電流/絕緣電阻測(cè)試儀，該測(cè)試儀是專門針對(duì)鉭電容器，電解電容，陶瓷電容等漏電流測(cè)試的儀器，輸出電壓任意設(shè)置1-650V，漏電流測(cè)試范圍0.001uA-20.00mA，充電電流可達(dá)100mA，具有高達(dá)30ms/次的采樣速率。

        通過施加一定的電壓，并等待電容器內(nèi)部電荷積累達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)來測(cè)量電容器的漏電流，即漏電流 = 電容器兩極板之間的電壓值 / 電容器的電容值。

        選擇以下三款不同的電容作為被測(cè)物進(jìn)行比較測(cè)試。

測(cè)試過程

② 設(shè)置測(cè)試參數(shù)

      電      壓：100V（電容額定電壓）

      充電時(shí)間：60s

      測(cè)試時(shí)間：60s

      放電時(shí)間：5s

③ 開始測(cè)試，啟動(dòng)后，儀器會(huì)先進(jìn)行充電，充電結(jié)束后，儀器進(jìn)行測(cè)試，此時(shí)漏電流值會(huì)逐漸平穩(wěn)顯示。在測(cè)試完成后進(jìn)行放電，并顯示最終的測(cè)試結(jié)果。

     其他電容測(cè)試如上步驟一致，最終測(cè)試漏電流結(jié)果如下。

        漏電流的大小和電容的介電材料選擇及工藝（K系數(shù)），以及額定電壓、容值有關(guān)，容值越大、耐壓越大和使用介電常數(shù)高的電介質(zhì)，漏電流越大。

     在測(cè)試時(shí)，測(cè)試參數(shù)的設(shè)定，外部的干擾，以及接線等也會(huì)影響實(shí)際的數(shù)據(jù)結(jié)果，根據(jù)電容器的額定電壓和額定電容值選擇合適的測(cè)試儀器和測(cè)試參數(shù)，才是正確的測(cè)試方法。